PatentDB.ru — поиск по патентным документам

АВЕРКИН ЮРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ

Изобретатель АВЕРКИН ЮРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для ориентации выводов электронных приборов

Устройство для ориентации выводов электронных приборов

  се--„.. :,эч. -.. вт®т@нтно;. М: ON6ANQ-„@f. А ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ t»t 4838 ls Союз Соеетскнк Соцналистнческих Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 02.04.73 (21) 1899955, 26-21 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 05.09.75. Бюллетень № 33 Дата опубликования описания 18,12.75 (511 М, Кл. Н 051(13, 00 ll 651< 13/06 Государственный ко...

483815

Квазистатическая ячейка памяти

Квазистатическая ячейка памяти

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К . АВТОРСКОМУ СВИДВТВЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. cBHll-ву iiii63I988 Сеоа советова Сюцналистииеора Республик ВПТУ ФМ; ЖИРЛ3 2 (5l> М. Кл. (22) Заявлеио17.05,76 (21} 2363319/18-24 Cj 11 С 11/40 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано05а11.78.Бюллетень %41 (45) Дата опубликования описания 05.11.78 Гкуйвестввяввй «аетвт Свевтв М«...

631988

Ячейка памяти

Ячейка памяти

  7, Ю. А. Аверкин, В, Q, Костюк, В, П. Сидоренко, В. H. Смирнов, Ю. П, Троценко, В. П. Чекалкин, Н. И. Хпынский и Ю. А. Юхименко (72) Авторы изобретен ня (71) Заявитель (54) ЯЧЕЙКА ПАМЯТИ Изобретение относится к вычислнтеп ной технике, s частности к запоминаюшии устройствам. Известны ячейки памяти, построенные на основе МДП-структур, с двумя шинами выборки, например однотранзи...

681455

Устройство для вычисления произведения векторов (его варианты)

Устройство для вычисления произведения векторов (его варианты)

  Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при построении высокопроизводительных конвейерных вычислительных средств, выполненных.на узлах с большой степенью интеграции. Целью изобретения является уменьшение аппаратурных затрат при вычислении скалярного произведения векторов и уменьшение аппаратурных затрат и увеличение быстродействия при вычислении п...

1280389

Способ измерения дифференциальных спектров пропускания на двухлучевых спектральных приборах

Способ измерения дифференциальных спектров пропускания на двухлучевых спектральных приборах

  Изобретение относится к физико-химическим методам исследования материалов, позволяющим определять распределение толщин и особенности строения тонких и сверхтонких диэлектрических и полупроводниковых слоев, например, в полупроводниковых изделиях микроэлектроники. Целью изобретения является повышение точности измерения. Это достигается тем, что расщепляют пучок излучения на параллел...

1539608