РЯХИН ВЛАДИМИР ФЕДОРОВИЧ
Изобретатель РЯХИН ВЛАДИМИР ФЕДОРОВИЧ является автором следующих патентов:

Резистивный материал
СОЮЗ СОВЮТСИНХ Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт, свид-ву 1 (Я2) 3аянлено17.01.75 (21) 2) 01234/21 с присоединением заявки № (Ы) М. Кл.е Н 01 С» 7/00 Гооударстаенный номнтет Совета Инннстроо СССР по делам кзооретеннй и открь1тнй (23) Приоритет (43) Опубликовано 05.07.76,Бюллетень № 25 (46) Дата опубликовании описании 28.07 76 (53) УДК .C21.ver .
520628
Резистивный материал
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистических Республик 834778 Ф Я I (61) Дополнительное к авт. сеид-ву (22) Заявлено 0706.79 (21) 2778023/18-21: с присоединением заявки Йо (23) Приоритет Опубликовано 30.05.81. Бюллетень Н9 20 Дата опубликования описания 300581 {5l)M. Ка. Н 01 С 7/00 Государственный комитет СССР но делам изобретений и от...
834778
Резистивный материал для высокоомных тонкопленочных резисторов
iii924765 ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союэ Советски н Социалис тически к Республик (6I ) Дополнительное к авт. саид-ву (5l)M. Кл. (22) Заявлено 23. 10. 80 (21) 2996749/18-21 Н 01 С 7/00 с присоединением заявки №евауйарстеенные комитет СССР ео денем нмбретеннй н атерытнй (23) ПриоритетОпубликовано 30. 04. 82 Бюллетень № 16 Дата опубликования описания 0...
924765
Способ определения чистоты поверхности подложки для тонкопленочных резисторов
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТИ ПОДЛОЖКИ ДЛЯ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ РЕЗИСТОРОВ, включающий нанесение на анализируемую поверхность материала, ввделяющего места загрязнения подложки, и проведение последующего визуального контроля, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности определения чистоты поверхности подложки , нанесение материала проводят путем термического испарени...
1101475
Способ изготовления пленочных цилиндрических резисторов
СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИК (l9) (П) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР flO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЬГПФ (21) 3006985/18-21 (22) 24 ° 11.80 (46 ) 23. 08. 84. Бюл. М 31 (72) В.Л.Волкова, А ° С.Гудков, В.Ф.Ряхин, Г.A.Ìàêñèìöîâà, B.Â.Áîãàòêîâà, В.И.Загинайло и И.В.Закс (53) 621.316.8(088.8) (56) 1. Мартюшов К.И. и др. Техноло...
1109814
Способ лужения выводов радиоэлементов
Изобретение относится к пайке, а точнее к технологии лужения погружением выводов радиоэлементов, и может быть использовано при производстве радиоэлектронной аппаратуры. Цель изобретения - повышение качества лужения за счет предотвращения образования остатков флюса. На конец вывода радиоэлемента наносят флюс, содержащий глицерин и активную составляющую, и производят погружение его...
1555074
Способ контроля качества резистивных пленок на диэлектрических подложках
Изобретение относится к производству л измерениям резистивных пленок на диэ- .лектрической подложке и может быть использовано при определении качества резистивных пленок, используемых в производстве тонкопленочных резисторов, после напыления их в вакууме на диэлектрические подложки. Целью изобретения является повышение точности контроля качества. Изобретение включает напыление и...
1702270
Способ изготовления прецизионных тонкопленочных резисторов
Изобретение относится к электронной технике, в частности к технологии изготовления прецизионных тонкопленочных резисторов . Цель изобретения-повышение термостабильности - достигается тем, что способ включает в себя осаждение в вакууме на партию керамических подложек пленочных резистивных материалов на основе хрома, железа, алюминия, титана, двуокиси кремния, отжиг на воздухе неск...
1812561