Способ определения вида дефектов, их количества, энергии активации времени релаксации активационных объектов дефектов кристаллической решетки диэлектриков и полупроводников и устройство для его реализации
(щ737822 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСК (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 200477 (21) 2479093/18-25 С ПРИСОЕДИНВИИЕМ ЗаЯВКИ Hо (23) Приоритет Опубликовано 300580. Бюллетень М 20 Дата опубликования описания 300580 (51)М. Кл.2 G 01 N 27/24 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 543.257 (0...