G01R31/3181 - функциональные испытания (G01R 31/3177 имеет преимущество)

Выходное устройство для систем функционального контроля

ОП ИСАНИ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Р Союз Советских Социалистических Республик (11) 444138 (61) Зависимое от авт. свидетельства 204193 (22) Заявлено 28.04.73 (21) 1913201/18..24 (51) М. Кл. G 01 g 31/38 с присоединением заявки Государственный камнтет Совета Мнннстров СССР по делам нзооретеннй н открытий (32) Приоритет Опубликовано 25.09.74,Бюллетень е 35 уб...

444138

Устройство функционального контроля системы автоматизированного управления

О Il И С А Н И Е (!ц 470795 ИЗОБРЕТЕ Н И Я К АВТОРСИОМУ CBNPII-TEf35CTB ;т Со!аз Советски", Социал. сти(ес((нх Реслублнн (61) Зависимос от авт. свидетельства (22) Заявлено 30.01.73 (21) 1882019/18-24 (51) М. Кл. б 05b 23/02 G 0lr 31/28 с I!pl!co< дин(ни(м заявки № Государственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий {32) Приоритет Опубликовано 15.0...

470795

Устройство для функционально-параметрического контроля логических элементов

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ФУНКЦИОНАЛЬНО-ПАРАМЕТРИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ ЛОГИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ, содержащее генератор импульсов, первьй счетчик, коммутатор, соединенный первыми входами с выходами первого счетчика, первыми выходами - с клеммами для подключения выводов контролируемого логического элемента, дешифратор, соединеиньй входами с вторыми выходами коммутатора, мультиплексор, соединенный ин...

1140065

Устройство для контроля больших интегральных схем памяти

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ БОЛЬШИХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ПАМЯТИ, содержащее блок микропрограммного управления, выход которого соединен с управляющими входами генератора импульсов, узла синхронизации , формирователя временной задержки , блока задания воздействия и реакций, группы формирователей формЬ сигналов, задающий выход блока задания воздействий и реакций соединен с управляющим вход...

1179375

Устройство для функционального контроля цифровых интегральных схем

Изобретение позволяет повысить точность контроля интегральных схем. Устройство содержит блок 1 аналоговых компараторов,выполненный на усилителях 2 и 3, элементы памяти, выполненные на триггерах 4 и 5, элемент 9 задержки, триггеры 6-8, источники 19 и 20 опорных напряжений и .компаратор 10, выполненный на элементах И 11 и 12 и элементе ИЛИ 13..Введением элемента 21 задержки и комму...

1337838

Устройство функционального контроля логических блоков

Изобретение может быть использовано в качестве отладочного стенда на этапе логического проектирования цифровой аппаратуры. Цель изобретения - повышение быстродействия и расширение функциональных возможностей устройства. Устройство содержит программный вычислительный блок 1, блок 2 управления, регистр 4 стимулирующего кода, формирователи 5.1...5.п входных сигналов, контактнчй блок...

1377784

Устройство для контроля цифровых узлов

Изобретение может быть использовано для групповых испытаний вы11 числительной техники. Устройство содержит блок 1 формирования тестов, эталонный блок 2, группу 3.1 элементов сравнения и элемент И 5.1. Введение регистра 10 ошибок, И блоков 9.1...9.N самоблокировки, N-1 элементов И 5.2...5.N, N-1 групп 3.2...3.N элементов сравнения, связующий канал 11 и N+1 групп 6.1...6.N+1 и прие...

1377786

Устройство для автоматического контроля интегральных схем

Изобретение относится к электронной технике и служит для повьппения быстродействия допускового контроля входного тока КМОП-структур. Устройство содержит задатчик 1 кодов и кома1Щ, источник 2.опорного напряжения , программируемьй источник 3 напряжения , повторители 4 и 15, измерительный резистор 5, коммутатор 6, блок 7 подключения и источник 8 граничных значений. Кроме того, устро...

1401418

Способ контроля качества мдп интегральных схем с тестовыми транзисторами

Изобретение может использовлио для отбраковки потенциально ненадежных интегральных схем (ИС). Способ контроля качества МДП ИС с тестовыми транзисторами заключается в следующем. Отклю чают напряжение питания ИС и подвергают ее облучению -квантами. Подают после каждого цикла облучения на Р1С и тестовые транзисторы возрастающее от нуля напряжение питания и контролируют правильность...

1408393

Способ отбраковки потенциально нестабильных цифровых интегральных микросхем

Изобретение относится к технике неразрушающего контроля. Цель изобретения - повышение достоверности контроля. На две испытуемые микросхемы подают питание . На одноименные входы микросхем одновременно подают сигналы заданной тестовой последовательности. Раздельно преобразуют токи переходных процессов в цепях питания микросхем в сигналы напряжения. Повышение точности достигается те...

1420558

Устройство для функционального контроля цифровых интегральных схем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в устройствах контроля динамического функционирования цифровых интегральных схем. Устройство содержит блок 1 аналоговых компараторов , D-триггеры 7 и 8, триггеры 4 и 5 памяти, выходной триггер 6, блок 9 задержки, блок 10 коммутации. Введение блока.23 коррекции, D-триггеров 21 и 22 и входной клеммы...

1430915

Устройство для функционального контроля цифровых узлов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при функциональном контроле больших интегральных схем. Устройство содержит ЭВМ 1, накопитель 2, блок (Б) 3 управления, Б 4 упрдвления памятью, Б 5 памяти наборов, контактный Б 16, компаратор 17, Б 6 памяти циклограмм, Б 7 памяти команд. Б 8 памяти откликов, Б 9 синхрониза-; , буфер 10 маски, дешифр...

1465836

Устройство контроля интегральных схем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля интегральных схем (ИС). Цель изобретения - расширение функциональных возможностей устройства - достигается путем автоматического определения типа контролируемых ИС. Устройство содержит программируемые генератор 1 тока и источник 2 напряжения, счетчики 3, 4 адреса, блок 5 ключей, мультип...

1479899

Устройство для контроля логических блоков

Изобретение используется для программного контроля печатных плат. Устройство содержит: триггер 1, входную шину 2 опроса, дешифратор 3, входные шины 4 данных, входные шины 5 выбора данных, входную шину 6 начала контроля, входную шину 7 тактовых импульсов приема, входную шину 8 тактовых импульсов передачи, выходную шину 9 результата контроля и шины 10 испытательных сигналов, регистры 11, 12...

2047870

G01R31/3181 - функциональные испытания (G01R 31/3177 имеет преимущество)

Патенты в этой категории