Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт электронной техники" (RU)
Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт электронной техники" (RU) является правообладателем следующих патентов:
Способ приварки вывода в полупроводниковом приборе
Изобретение может быть использовано для приварки металлических выводов при производстве силовых полупроводниковых приборов. На V-образный электрод подают импульс тока с приложением начального давления и подачей ультразвуковых колебаний вдоль оси привариваемого вывода. Прикладывают добавочное давление с уменьшением амплитуды ультразвуковых колебаний до нуля. В момент приложения добавочного давлен...
2525962Устройство охлаждения ис
Изобретение относится к области электроники и предназначено для отвода тепла от ИС, СБИС, силовых модулей, блоков радиоэлектронной аппаратуры и т.п. Технический результат - повышение теплоотвода от кристалла к корпусу; упрощение технологии сборки с использованием теплоотводов на основе эффекта Пельтье. Достигается тем, что в устройстве охлаждения ИС, основанном на использовании эффекта Пельтье,...
2528392Способ реализации логических преобразователей
Изобретение относится к цифровой вычислительной технике. Техническим результатом является создание библиотечных модулей полиномиальных логических преобразователей на языках HDL, а также оперативной перенастройки логических преобразователей на реализацию заданной логической функции. Технический результат достигается за счет способа, который включает первоначальное получение исходного математическ...
2541905Способ измерения концентрации примесей в нейтральных газах
Изобретение предназначено для определения чистоты нейтральных газов, используемых при производстве изделий электронной техники. Способ измерения концентрации примесей в нейтральных газах заключается в том, что анализируемый нейтральный газ подают в камеру, где находится чувствительный элемент, измеряют его электрическое сопротивление, по изменению величины которого судят о концентрации примеси,...
2556337Способ уменьшения остаточных термомеханических напряжений на границе подложка-металлическое покрытие
Изобретение относится к области микроэлектроники, а именно к способу производства полупроводниковых изделий, предусматривающего монтаж кристаллов к корпусам, для осуществления которого используется напыление металлического покрытия на обратную поверхность кристаллов в составе подложки. Сущность изобретения: способ уменьшения остаточных термомеханических напряжений на границе подложка - металличе...
2569642Способ монтажа кремниевых кристаллов на покрытую золотом поверхность
Изобретение относится к области полупроводниковой микроэлектроники и предназначено для присоединения полупроводникового кристалла к корпусу методом контактно-реактивной пайки с образованием эвтектического сплава Au-Si при производстве транзисторов и интегральных микросхем. Предложен способ монтажа кремниевых кристаллов полупроводниковых приборов на покрытую золотом поверхность корпуса с нанесенн...
2570226Способ сборки трехмерных интегральных схем 3d бис
Изобретение относится к области электроники и предназначено для изготовления трехмерных интегральных схем 3D БИС. Сущность изобретения: способ сборки трехмерных интегральных схем 3D БИС включает операции монтажа кристаллов друг на друга с последующим соединением каждого кристалла с корпусом с использованием выводов. Монтаж кристаллов последовательно осуществляют друг с другом, при этом соединен...
2584180