PatentDB.ru — поиск по патентным документам

РУМАК НИКОЛАЙ ВЛАДИМИРОВИЧ

Изобретатель РУМАК НИКОЛАЙ ВЛАДИМИРОВИЧ является автором следующих патентов:

Травитель для выявления нарушения кристаллической структуры полированной поверхности кремния

Травитель для выявления нарушения кристаллической структуры полированной поверхности кремния

  Союз Советских Социалистимеских Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свил-ву(») 534835 (22) Заявлено 23,09,74(21) 2062589/25 (51) М. Кл,т Н 02 Li 21/465 с присоелииением заявки №вЂ” (23) Приоритет(43) Опубликовано05.11.76.Бюллетень № 41 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений н открытий (53) УДК 621....

534835

Контактный наконечник

Контактный наконечник

  ОП ИСАНИ ИЗОБРЕТЕН И К АВТОРСКОМУ СВИДВТВЛЬСТВ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свил-ву (22) Заявлено 26.05,77 (21) 2493055/1 с присоединением заявки №(23) Прнорнте т Опубликовано 15.04.79.Бюллетень Дата опубликования описания 18.0 )ееудерстееннвй хеиетет СССР ее делам язобретекек и юткрмтяк (72) Авторы изобретения Л. И. Гурский, H. В....

657373

Функциональный счетчик

Функциональный счетчик

  Союз Советских Соцмалнстических Республик О П И С А Н И Е < 680177 ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДИТВДЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свнд-ву (22) Заявлено 16.08.77 (21) 2517870/18-21 с присоединением заявки № (23) Приоритет - - -2" (53) М. Кл. Н 03 К 23/02 Гасударственный квитет СССР. вв дулам нзовретеннй и отнрмтнй Опубликовано15,08.79,Бюллетень № 30 (53) УДК621.374.. 32 (...

680177

Способ изготовления полупроводниковых приборов, преимущественно на основе монокристаллического кремния

Способ изготовления полупроводниковых приборов, преимущественно на основе монокристаллического кремния

  А.Ф. Каннцее, В.В. Кунса, Н.В. Румен, А.Г. Черных, Л.Н.. Лытко, Г.М. Туманов и Н.А. Гордеев (72) Авторы изобретения (2l) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ, ПРЕИМУЩЕСТВЕННО НА ОСНОВЕ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КРЕМНИЯ Изобретение относится к технике изготовления интегральных схем, в частности для изготовления комплеметарных на основе металл-окиселполупро...

924776

Способ рентгеновского контроля текстуры длинномерных изделий

Способ рентгеновского контроля текстуры длинномерных изделий

  СПОСОБ РЕНТГЕНОВСКОГО КОНТРОЛЯ ТЕКСТУРЫ ДЛИННОМЕРНЫХ ИЗДЕЛИЙ, включающий облучение изделия пучком рентгеновских лучей и регистрацию интенсивности отраженного излучения , отличающийся тем, что, с целью повышения экспрессности контроля за счет исключения разрушения готовых изделий, предварительно определяют угловые координаты и угловую ширину максимума полюсной плотности текстуры э...

1087854


Установка для рентгенографического исследования текстуры

Установка для рентгенографического исследования текстуры

  УСТАНОВКА ДЛЯ РЕНТГЕНОГРАФР1ЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ ТЕКСТУРЫ, включающая рентгеновский дифрактометр с гониометром, на столике образца которого установлен корпус, в нем смонтированы поворотная рама с направляющими для возвратно-поступательного перемещения каретки с держателем образца, размещенного с возможностью вращения в плоскости кареткИ, электропривод поворота рамы относительно к...

1179178

Установка для рентгеновского контроля текстуры длинномерных изделий

Установка для рентгеновского контроля текстуры длинномерных изделий

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (19) (11) (S1) 4 G Oi N 23/20 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3642077/18-25 (22) 16.09.83 (46) 23.05.87. Бюл. Ф 19(71) Физико-технический институт АН БССР (72) Л.А. Макаревич, Н.В. Румак, А.Ф. Сакун, В.В. Сапожников, В.В. Скворцов, Г.И. Тишкевич и Г.Б...

1312458

Установка для рентгенографического исследования текстуры

Установка для рентгенографического исследования текстуры

  Изобретение относится к области рентгеновской аппаратуры для дифрактометрического исследования текстуры . Цель изобретения - расширение функциональных возможностей при исследовании текстуры за счет применения быстрого вращения образца вокруг нормали к исследуемой поверхности в широком диапазоне скоростей. Установка содержит дополнительный держатель 10 образца, установленный соосн...

1317343

Приставка к рентгендифрактометру

Приставка к рентгендифрактометру

  Изобретение относится к области рентгеновского приборостроения и может быть использовано для испытания различных материалов при постоянной и переменной нагрузках. Целью изобретения является повышение точности определения внутренних напряжений образца благодаря расширению углового диапазона измерений в области малых углов рассеяния рентгеновского излучения . Исследуемый образец за...

1343321

Приставка к рентгендифрактометру

Приставка к рентгендифрактометру

  Изобретение относится к научному приборостроению, в частности к устройствам для исследования структурного состояния материалов рентгеновскими методами, в том числе текстур поликристаллов. Целью изобретения является расширение методических возможностей дифрактометра путем введения дополнительных движений в кинематику приставки. Приставка обладает возможностями наклона-вращения обра...

1571485