G01N23/225 - с использованием электронного или ионного микроскопа (трубки с электронным или ионным пучком для микроанализа H01J 37/00)

Патент ссср 154613

№ 154613 Класс Н 011; 21g, 11а2 СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Подписная группа № 97 Г. В. Спивак, Н. Н. Седов и P. Д. Иванов СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛА В р-и ПЕРЕХОДЕ Заявлено 8 мая 1962 г. за № 777219/26-9 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Опубликовано в «Бюллетене изобретений и товарных знак...

154613

Способ исследования кристаллических поверхностей

1 в%тем t :x;-tt;ясон@ее библио ге;- 4-Д J ОПИС Е g3 gPETEHMSI К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 396604 Союз Советских Социалистимеских Республик Зависимое от авт. свидетельства № Л!. Кл. G 01п 23/04 Заявлено 24.1Ч.1972 (№ 1777920/26-25) с присоединением заявки № Приоритет Опубликовано 29 Ч1!1.1973. Бюллетень ¹ 36 Дата опубликования описания 15.1.1974 Государственный комитет...

396604

Рентгеновский микроанализатор

(ii) 640l85 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик 111 g + @> . (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 02.12.77 (21) 2545851/18-25 с присоединением заявки l¹ (23) Приоритет (51) М Кч G 01N 23 225 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий (43) Опубликовано 30.12.78. Бюллетень М 48 (53) УДК 621.386...

640185

Способ изучения плотности свободных электронных состояний в зоне проводимости твердых тел

«79%6 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сома Севетвккх Сацналксткческкх Рескублкк (61) Дополнительное к авт. свид-вувЂ” (22) Заявлено 21.09.79 (21) 2820740/18-25 с присоединением заявкивЂ” (23) ПриоритетвЂ” (43) Опубликовано 07.01.82. Бюллетень № 1 (45) Дата опубликования описания 07.01.82 (51) М.Кл.а б 01 N 23/225 4всудорственны кемнтау СССР ° по делам наобрет...

795163

Способ определения состава водо-содержащих минералов

Союз Советскик Социалистических Реслублик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (»)800837 (6I ) Дополнительное к авт. свнд-ву (22)Заявлено 02.03.79 (21) 2731648/18-25 (5 I ) M. Кл. G 01 И 23/225 с присоединением заявки МвЂ” Государственный комитет (23) Приоритет по делам изобретении и открытий Опубликовано 30.01.81. Бюллетень Рй 4 Дата опубликования описания...

800837

Способ приготовления комплексов днк с белком для электронно- микроскопического исследования

()946512 Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное н авт. свид-ву(22) Заявлено 2906.79 (21) 2837452/28-13 с присоединением заявки МвЂ” (23) ПриоритетвЂ” Опубликовано 300782 . Бюллетень М928 Дата опубликования описания 300782 ) 51) М. Кп. з A 61 В 10/00 G 01 N 1/28 Государственный коиитет СССР но делам изо...

946517

Способ подготовки образца для исследования

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистических Pecny6nw м947687 (61) Дополнительное к авт. сеид-ву 9 832599 (22) Заявлено 25Я780 (21) 2970629/23-26 с присоединением заявки ¹- р М gf з G N 1/28 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий (23) ПриоритетвЂ” (531УДК 543.053 (088.8) Опубликовано 30.0782. Бюллетень ¹ 28 Дата опу...

947687

Способ получения тонких пленок эластичных полимеров

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 2304.81 (21) 3279444/23-05 с присоединением заявки ¹(23) Приоритет Опубликовано 3008В2. Бюллетень ¹ 32 Дата опубликования описания 300882 f$q) М Кд 3 С 08 J 5/18 а 01 Н 1/28 G 01 Н 21/00 Государственный комитет СССР по делам изобрете...

954399

Способ изготовления реплик с керамических материалов для исследования в электронном микроскопе

О Л И С А Н И Е ()ев())672 ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сеез Севетсиик Сециапистичвсиик Рвспубттик (6) ) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено11. 02. 81 (2l ) 3248626/23-26 (5! )М. Кл. С 01 N 1/28 с присоединением заявки М Э (23) Приоритет9вударстаееый кевипат Иф,Р ае делая извбретений и открытий Опубликовано 23. 09. 82. Бюллетень № 35 (53 ) УД К 543. 053...

960572

Способ получения угольных реплик

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 03. 03. 81(21) 3259486/22-26 с присоединением заявки ¹â€” (23) ПриоритетвЂ” Опубликовано 15.1082. бюллетень ¹ 38 511М Кл з G 01 N 1/28 Государственный комитет СССР по делам изобретений: и открытий t$3) УДК 621.385. .883 (088. 8) Дата о...

966544

Способ получения тисненных реплик

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-вувЂ” (22) Заявлено 18.03.81 (21) 3263764/22-26 151) М. Кп.з G 01 N 1/28 с присоединением заявки ¹â€” Государственный комитет СССР IIo делам изобретений и открытий (23) ПриоритетвЂ” Опубликовано 15.10.82. Бюллетень № 38 Дата опубликования описания 15.10...

966545

Устройство для подготовки к электронной микроскопии объектов, предназначенных для изучения морфологических структур

ОП ИСАНИЕ(,972315 ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-вувЂ” (22) Заявлено 01.04.81 (2!) 3274381/25-26 с присоединением заявки №вЂ” (23) ПриоритетвЂ” (5!) М, Кл G 01 N 1/28 Гесударствеллмй квмнтет Опубликовано 07.11.82. Бюллетень № 41 Дата опубликования описания 17.11 82 (53) УДК 616-076. .4 (088...

972315

Полимерная композиция для пленки-подложки в электронно- микроскопическом исследовании порошкообразных материалов

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву.вЂ” (22) Заявлено 100781 (21) 3315354/23- 05 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет Опубликовано 231182. Бюллетень ¹ 43 Р М К з С 08 L 33/10 01 N 1/28 государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий (53)УДК 678.744. .322-19(088.8) Д...

975744

Способ автоионно-микроскопического исследования металлов

СПОСОБ АВТОИОННОМИКРОСКОПИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ МЕТАЛЛОВ, включающий облучение игольчатого образца иона№1 газа непосредственно в автойоннс микроскопе с помощью расположенного напротив него игольчатой формы источника бомбардирующ цс частиц, получение автоионного изображения поверхности образца на флуоресцентном экране, идентификацию на нем единичных междоузельных атомов и рас .чет...

1012667

Способ локального рентгеноспектрального анализа образцов в электронном микроскопе с микроанализатором

СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИН (19) (11) 9(51) G 01 Н 23 225 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ABT0PCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 2983899/18-25 (22) 26.09.80 (46) 23.03.84. Бюл. 9 11 (72) М.A.Êèïíèñ и Г.М.Корсунский (53) 539.25 (088.,8) (56) 1. Засичев Б.Н. Электроннозондовый микроанализ тонких пленок. М., "Металлур...

1081496

Способ контроля структурных дефектов

СПОСОБ КОНТРОЛЯ СТРУКТУРНЫХ ДЕФЕКТОВ, вкгаючаюший операции нанесения на контролируемую поверхность тонкой метапптческой ппенки, отцепения ее с помощью желатины и изучения в электронном микроскопе просв&чившощего типа, отличающийс я тем, что, с цепью повышения качества контроля дефектов типа трещин, металлическую ппенку наносят путем химического осаждения серебра. СОЮЗ...

1086376

Способ контрастирования полимерных гетерофазных объектов для электронной микроскопии

СПОСОБ КОНТРАСТИРОВАНИЯ ПОЛИМЕРНЫХ ГЕТЕРОФАЗНЫХ ОБЪЕКТОВ ДЛЯ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ, заключающийся в обработке пленкиполимера водными растворами соединений металлов с последующей промывкой их водой и сушкой, отличающийс я .тем, что, с целью расширения номенклатуры обрабатываемых полимеров и сокращения времени препарирования образцов, и качестве соедине- , НИИ металлов применяют...

1089463

Способ послойного анализа диэлектриков

СПОСОБ ПОСЛОЙНОГО АНАЛИЗА ДИЭЛЕКТРИКОВ, заключающийся в бомбардировке ионами поверхности образца с предварительно нанесенной на нее токопроводящей пленкой, регист-г рации спектров вторичной ионной эмиссии и определении концентраций элементов по зарегистрированным спектрам , отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и улучшения воспроизводимости результатов, бомбар...

1105792

Способ количественного анализа поверхностных слоев твердых тел

1. СПОСОБ КОЛИЧЕСТВЕННОГО АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ ТВЕРДЫХ ТЕЛ, заключающийся в облучении анализируемой поверхности исследуемого образца пучком моноэнергетических электронов, регистрации эмиттированных с поверхности электронов, измерении потоков первичных и эмиттированных электронов и определении искомой концентрации по аналитической зави симости и измеренным величинам, отлича...

1117506

Способ рентгеноспектрального микроанализа

СПОСОБ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО МИКРОАНАЛИЗА, включающий облучение объекта сфокусированным пучком электронов и регистрацию возбужденного рентгеновского излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения локальности микроанализа, облучение производят дискретным потоком электронов в виде кратковременных импульсов длительностью не больше мертвого времени и с интервалом меяаду импульса...

1155925

Способ формирования изображения микроструктуры металл- диэлектрика в растровом электронном микроскопе

Изобретение относится к област измерительной техники, в частности к способам получения изображения микроструктуры Поверхности диэлектриков с нанесенным проводящим покр тием и может быть использовано, нап ример, при .производстве и совершенствовании растровых электронных микроскопов . Цель изобретения - повышение чувствительности путем использования в качестве формирующего импульс...

1200176

Способ определения распределения состава в слоисто- однородных объектах

Изобретение относится к анализу элементного состава с помощью электронно-зондового микроанализа. Объект исследования сканир тот электронным зондом с шагом не менее 0,01 мкм и измеряют интенсивности характеристического рентгеновского излучения элементов , входящих в состав объекта. По окончании сканирования измеряют диаметр зонда d и находят поперечное сечение Lj.H3 соотношения L...

1224691

Способ определения типа дислокаций в монокристаллах

Изобретение относится к способам определения типа дислокаций в монокристаллах и может быть использовано для исследования кристаллов со структурой сфалерита. Цель изобретения - повьшение информативности . Для достижения поставленной цели исследуемый образец облучают сканирующим пучком электронов. Индуцированный ток визуализируют на экране осциллографа в зависимости от текущей коор...

1260785

Способ локального микрорентгеноспектрального анализа образцов

Изобретение относится к области локального рентгеноспектральногр анализа образцов в электронном микроскопе с микроанализатором. На выбранный для анализа участок образ-, ца наносят летучее вещество-метку, спектр излучения которого отличается от спектра излучения материала образца. Настраивают микроанализатор на линию материала метки. Перемещают образец под электронным зондом до мо...

1260786

Способ подготовки образцов для локального анализа следов элементов

Способ подготовки образцов для локального анализа следов элементов, находящихся в перенасыщенных твердых растворах с ограниченной растворимостью, включающий выделение преципитатов, отличающийся тем, что, с целью расширения спектра примесей, содержащихся в преципитатах в концентрации, превышающей пороговую чувствительность M используемой методики локального анализа, образцы отжигают после...

1319692

G01N23/225 - с использованием электронного или ионного микроскопа (трубки с электронным или ионным пучком для микроанализа H01J 37/00)

Патенты в этой категории