Способ контроля структурных дефектов

Способ контроля структурных дефектов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СПОСОБ КОНТРОЛЯ СТРУКТУРНЫХ ДЕФЕКТОВ, вкгаючаюший операции нанесения на контролируемую поверхность тонкой метапптческой ппенки, отцепения ее с помощью желатины и изучения в электронном микроскопе просв&чившощего типа, отличающийс я тем, что, с цепью повышения качества контроля дефектов типа трещин, металлическую ппенку наносят путем химического осаждения серебра.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

SU„„1086376 A

3(59 Q 01 М 23 225 — » ° ФР м

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

AO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЦТИЙ

\ » (21) 3244336/18»33 (22) 03.02.81 (46) 15.04.8.ф. Бюп. И 14 (72) В. Н, Дубовик, О. А. Непомнящий, B. И. Покопенко и А. М. Райхепь ,(71) Орцена Труцового Красного Знамени завоц "Автостекло " (53) 539.14 (088.8) (56) 1. Дубовик В. Н. и цр. Упрочнение и повышение термостойкости стекпо» кристаппических материалов.- Сб. тезисов цокпацов симпозиума Повышение эксцпуатационной нацежности и технологические процессы упрочнения изцепий из стекла". Ротапринт BHHH3CN, Гусь-Хрустальный, 1979, с. 59-60.

2. Павпушкин Н. М. и цр. Практикум по технологии стекла и ситалнов.

М., Изц-во литературы lIo строительству, 1970, с, 423- 432 (прототип), (54) (57) СПОСОБ КОНТРОЛЯ СТРУК»

ТУРНЫХ ДЕФЕКТОВ, включающий операции нанесения на контролируемую поверхность тонкой метаппической пленки, DTqenearm ее с помощью жепатины и изучения в электронном микроскопе просвечивающего типа, о т и и ч а ю щ и йс я тем, что, с цепью повышения ка чества контроля цефектов типа трещин, металлическую пленку наносят путем химического осажцения серебра.

1086376

Изобретение относится к способам контроля структурных цефектов, возникающих в материапах вспецствие цействия микронапряжений (напряжений второго роца), например в ситаппах в процессе 5 кристаллизации.

Известен способ пюминесцентной цефектоскопии, способный выявить цефекты раскрывом нескопько микрон.

Согпасно этому способу образец разрушают и травят его скоп в ппавиковой киспоте ппя устранения вторичных трещин, возникающих при разрушении образца. Поспе этого образец погружают в пюминесцентную жицкость и выцержива1от в течение времени, цостаточного цпя полного проникновения жицкости в попости микроцефектов. Затем пюминеоцентную жицкость смывают проточной воцой и образец высушивают. Изучение структурной цефектности материала образца произвоцят с помощью оптического микроскопа в ультрафиолетовом изпучении t 1 J .

Однако известный способ не поз- 25 вопяет опрецепить размеры и форму структурных цефектов из-за наличия вокруг них упьтрафиопетового ореола., Кроме того, увеличение микроскопа ограничено цпиной волны ультрафиолетового излучения.

Наиболее близким к изобретению цо технической сущности и постигаемому результату является способ контроля структурных цефектов, состоящий в по- 35 пучении отпечатка (реплики) с контролируемой поверхности и изучения ее в электронном микроскопе просвечивающего типа. Реплики изготавливают путем нанесения на поверхность тонкой, например 40 угольно- платиновой реплики и отцепения ее с помощью жепатины. Этот способ позволяет исспецовать структуру материала и цефекты: форму и размеры кристаллических частиц и включений, пиква- 45 ционных областей, ступеней роста и пр. с вы соким ра зр ешением 3 2. 3 .

Данный способ не позволяет контропировать структурные дефекты типа тре UGm, так как участки угопьнО-платиновой 50 реплики, заполняющие трещины, поврежца« ются при отцепении реппики от поверхкости объекта.

Цець изобретения - повышение ка чества контроля структурных цефектов у типа трещин.

Поставленная цепь цостигается тем, что согласно способу контропя структурных цефектов, вкпючающему операции нанесения тонкой металлической ппенки на контролируемую поверхность, отцепения ее с помощью желатиныи изучения в электронном микроскопе просвечивающего типа, метаппическую пленку наносят путем химического осажцения серебра.

При химическом осажцении частины серебра полностью заполняют микроцефекты типа трещин. На поверхности объекта образуется прочная ппенка серебра, отцепяемая с помощью жепатины без поврежцений, Упрочнению пленки, возможно, способствует обработка поверх.— ности раствором хпористого олова, обычно применяемая при химическом осажцении серебра. Серебряная реплика с поверхности объекта прецставпяет собой тонкую, близкую к островковой, ппенку в областях, соответствующих безцефектным участкам поверхности, с утолщениями, размеры и форма которых соответствуют цефектам типа трещин. Эти различия в толщине пленки хорошо вицны в электронном микроскопе просвечивающего типа.

Пример . Провоцят опрецепение структурной цефектности образцов ситап па АС-418. После травления сколов в ппавиковой кислоте образцы обезжиривают 10%-ным раствором щелочи и ополаскивают в цистилпированной воце.

После этого скопы образцов обрабатывают 0,1%-ным раствором цвухпористого олова БпС02 и снова промывают цистиппированной воцой. Затем на поверхность образцов чаносяг тонкий слой сер ебрипьного раствора (5 г/и А МО, 5 г/и Na0H и КОН и 10 мл/л 25%ного раствора NH40Í), смешанного с раствором восстановителя (10 / -ный раствор инвертированного сахара), Серебрипьный раствор смешивают с раствором восстановителя в соотношении 50:1 и поцают смесь растворов на образец в течение 20-30 с. После промывки цистиппированной воцой образцы высушивают и на скопы наносят воцный раствор жепатины, который при своем высыхании ацсорбирует спой серебра с образцов.

Затем желатиновую пленку со слоем серебра погружают в цистиппированную воцу, нагретую цо 80-90 С с цепью о растворения жепатиновой пленки. Серебряную пленку выпавпивают из воцы мецной поцпожкой и набпюцают в электронном з микроскопе УЭМИ LOOK просвечивающего типа с поспецующим фотографированием на фотоппастинки. Характерный размер структурных цефектов, опрецепенных таким способом на образцах ситапла АС-418, составпяет

6-10 мкм, их поверхностная ппоъ

1086376 4 ность — l 5 10 " м . Форма цефектов ветвистая.

Испопьзование прецпагаемого способа контропя структурных цефектов обеспечивает увепичение точности опрецепения размеров микроцефектов и возможность выявпения их формы.

Заказ 2237/43 Тираж 823

ВНИИПИ Госуцарственного комитета СССР по цепам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж 35, Раушская наб., ц. 4/5

Поцписное

Фипиап ППП Патент, г. Ужгороц, уп. Проектная, 4

Составитеаь М. Мессерер Реаактор Т. Парфенова Техрец И.Асталош Корректор g. Тигор