БРОН ЮРИЙ МИХАЙЛОВИЧ
Изобретатель БРОН ЮРИЙ МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:
![Устройство для контроля качества поверхности проката Устройство для контроля качества поверхности проката](https://img.patentdb.ru/i/200x200/672389e3bebbc81dc94fa12056c701e3.jpg)
Устройство для контроля качества поверхности проката
ОЙИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ п) 560)73 Совз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 03.05.72 (21) 1780612/28 (51) М. Кл."- G OIN 27/86 G 01В 7/06 с присоединением заявки ¹ Государственный комитет (23) Приоритет Совета Министоов СССР Опубликовано 30.05.77. Бюллетень . Я 20 по делам изобретений (53) УДК 620.179....
560173![Сканирующее устройство для дефектоскопии круглого проката Сканирующее устройство для дефектоскопии круглого проката](https://img.patentdb.ru/i/200x200/26e3575cdf7126c0e1c4a952a51507cb.jpg)
Сканирующее устройство для дефектоскопии круглого проката
Союз Советских Социалистических Республик О Il И С А Н И Е t
564584![Устройство для поштучной разборки пакета длинномерных изделий Устройство для поштучной разборки пакета длинномерных изделий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0f9c2f74a15ca6304a217b632a508198.jpg)
Устройство для поштучной разборки пакета длинномерных изделий
СПИ И ИЗОБРЕТЕН И I1! 576I34 Со1оэ Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕ ТЕЛЬ С (61) Дополните;.ы|ое и азт. с::::д-з (22) Заявлено 24.05.76 (21) 2564811, 02 с присоединением заяв1;и Л" (23) Приоритет (43) Опубликовано 15.10.77. Бюллетень (45) Дата опубликования описания 20. 51) М. Кл2 В 21С 1 32 Государственный комитет Совета Министров СССР 00 делам изобре...
576134![Селективный дефектоскоп Селективный дефектоскоп](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f51c1cbf12990fbf4d73f411be9e9983.jpg)
Селективный дефектоскоп
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (11) 616579 Сеюз Советсння С©цнапнстнчесння Респубяни (61) Дополнительное к авт. свил-ву (22) Заявлено 230277 (21) 2458906/25-28 (51) М. Кл. (01 Й 27/86 с присоединением заявки И Государственный комитет Совета Министров СССР ио делам изобретений и отнрытий (23) Приоритет (43) Опубликовано 250778. Бюллетень ЭЙ 27 (SS) УДК 620....
616579![Следящее устройство к дефектоскопу Следящее устройство к дефектоскопу](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9e9d706e91746b6e50619050d541fb14.jpg)
Следящее устройство к дефектоскопу
Союз Советскик Социалистических Республик,(и) 696367 (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено120776 (21) 2382821/25 — 28 с присоединением заявки 9 2382924/25 — 28 (51)м. Кл. 4 01М 27/86 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет (5Ç) УДК б 20. 179. .14(088.8) Опубликовано р51179, Бюллетень ¹ 41 Дата опубликования описания 051179 (...
696367![Каретка к дефектоскопу Каретка к дефектоскопу](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6ea3842278918c5b5d66be3485e172bb.jpg)
Каретка к дефектоскопу
Союз Советских Социалистических Республик ю72О352 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 08.06.76 (21) 2370834/25 — 28 с присоединением заявки J% (23) П риоритет (51) IVL. Кд. G 0) N 29/04 G 01 1ч 27/86 Ваударотеекеый комитет СССР ло делам изобретений к открытий Опубликовано 05.03.80. Бюллетень J% 9 Дата опубликования описания 05.03.80 (53) УД К620.179. .16+62...
720352![Устройство к дефектоскопу для контроля цилиндрических изделий Устройство к дефектоскопу для контроля цилиндрических изделий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/409cb14d748404d15534895b448779bb.jpg)
Устройство к дефектоскопу для контроля цилиндрических изделий
()734549 ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 14,09.76 (21) 2403758/25-28 с присоединением заявки №вЂ” (23) П р и оритетв (5l ) М. Кл. G 01 N 27/86 Гоеударстееииый комитет СССР (53) УДК 620.179.. 14 (088.8) по делам изобретений и открытий Опубликовано 15.05.80. Бюллет...
734549![Дефектоскоп для селективного контроля поверхности проката Дефектоскоп для селективного контроля поверхности проката](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d6908ff7c8529f66a652d90a5dcff783.jpg)
Дефектоскоп для селективного контроля поверхности проката
(i i) 777568 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 10.07.78 (21) 2639467/25-28 с присоединением заявки № (51) М. Кл. G 01N 27/84 ГосУдарственный комитет (23) Г1риоритет (43) Опубликовано 07.11.80. Бюллетень ¹ 41 (45) Дата опубликования описания 07.11.80 (53) УДК 620.179.14 (...
777568![Сканирующее устройство для дефектоскопии круглого проката Сканирующее устройство для дефектоскопии круглого проката](https://img.patentdb.ru/i/200x200/869f9aae93d837cb125b3186188a0b39.jpg)
Сканирующее устройство для дефектоскопии круглого проката
Союз Советских Сьциалистических Республик (ii)785723 It АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 07.1276 (2! ) 2428060/18-28 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет Опубликовано 07.1280. Бюллетень № 45 Дата опубликования описания 07.1280 (У)М. Кл. G 01 N 27/82 Государстаениый коиитет СССР во делаи изобретеиий и открыти и (53) УДХ 620. 17...
785723![Дефектоскоп контроля качестваповерхности изделий Дефектоскоп контроля качестваповерхности изделий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a5cd9838c030315a5072374ee3b57859.jpg)
Дефектоскоп контроля качестваповерхности изделий
Союз Советских Соцналисткческих Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ («)819678 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свмд-ву(22) Заявлемо 07. 04. 76(21) 2428061/18" 28 с присоединением заявим ¹â€” (23) Рриоритет— (51)М. Кл G 01 М 27/82 Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открыти й Опубликовано 07,04.81.6юллетемь № 13 (53)УДК 620 179 .142(088.8) Да...
819678![Многоэлементный преобразовательк магнитному дефектоскопу Многоэлементный преобразовательк магнитному дефектоскопу](https://img.patentdb.ru/i/200x200/656331ace47ac3bfbaf87183901bfd3d.jpg)
Многоэлементный преобразовательк магнитному дефектоскопу
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИ ИТИЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 2 30277 (21) 2454983/25-28 (51)М. КЛ. с присоединением заявни ¹ G 01 Н 27/87 Государственный комитет СССР по дедам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 2304.81. Бюллетень 89 15 Дата опубликования описания 250481 (53) УДК б20...
824017![Способ определения глубины поверхностных дефектов ферромагнитных изделий Способ определения глубины поверхностных дефектов ферромагнитных изделий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f64a649cba33f76c5313674f06cb9d44.jpg)
Способ определения глубины поверхностных дефектов ферромагнитных изделий
Союз Советскик Социалистических Республнк ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ИТЕЛЬСТВУ < 864104 (61) Дополнительное к авт. сеид- ву (22) Заявлено 130879 (2t) 2810726/25-28 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Опубликовано 150981. Бюллетень № 34 Дата опубликования описания 1509.81 (5!)м. кл.з 6 01 N 27/87 Государственный комитет СССР по делам изобретений н открытий (53...
864104![Дефектоскоп поверхности проката круглого сечения Дефектоскоп поверхности проката круглого сечения](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7a366e5dc391f96dc0d4fe5be3f0457c.jpg)
Дефектоскоп поверхности проката круглого сечения
Союз Советски к Социалистичесиик Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ()892288 (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву(22)Заявлено 24.01 .79 (21) 2717034/25-28 с присоединением заявки №(5l)M. Кл. G 01 и 27/90 (23)приоритет9кудауктекккы5 кемитет СССР Ао делам нзебретений и еткрытнк Опубликовано 23.12 81- Бюллетень № 47 Дата опубликования описания 23. 12....
892288![Дефектоскоп для контроля качества поверхности изделий Дефектоскоп для контроля качества поверхности изделий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/288e7d534b112f234ef318eb31e1bacc.jpg)
Дефектоскоп для контроля качества поверхности изделий
Ю.Н.Брон и А.И.Бутенко Научно-исследовательский и опытно-констру орский институт автоматизации черной металлургии., . (72} Автовы изобретеиия (7I) Заявятель (54) ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЙ Изобретение относится к неразру= ( шающему контролю качества поверхнос-. ти длиномерных изделий и может быть использовано на металлургических и машиностроительны...
934349![Двухкоординатный отметчик дефектов Двухкоординатный отметчик дефектов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8b2f3595b848e292530490f6353c70cd.jpg)
Двухкоординатный отметчик дефектов
Союз Советских .Социалистических Республик Оп ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (»)968728 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 01. 10. 80 (21) 2988213/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет (5l jM. Кл. G 0l N 27/90 3веударствсииый комитет СССР йо делам изобретений и открытий Опубликовано 23. 1 О. 82. Бюллетень ¹ 39 Дата опубликования описани...
968728![Способ электромагнитной дефектометрии Способ электромагнитной дефектометрии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e6a07d2fee05cd73f9dc16df05a432be.jpg)
Способ электромагнитной дефектометрии
СПОСОБ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОМЕТРИИ , заключающийся в том, что контролируемую поверхность намагничивают с помощью магниточувствительного преобразователя, установленного по нормали к контролируемой поверхности с фиксированным зазором, выделяют составляющие магнитного поля, обусловленные дефектом, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, одновременно выделяют составляющ...
1024819![Двухкоординатный отметчик дефектов длиномерных изделий цилиндрической формы Двухкоординатный отметчик дефектов длиномерных изделий цилиндрической формы](https://img.patentdb.ru/i/200x200/5b5e0d320b62e5c270d8b9f1d98049b4.jpg)
Двухкоординатный отметчик дефектов длиномерных изделий цилиндрической формы
ДВУХКООРДИНАТНЫЙ ОТМЕТЧИК ДЕФЕКТОВ ДЛИННОМЕРНЫХ ИЗДЕЛИЙ ЦИЛИНДРИЧЕСКОЙ ФОРМЫ, содержащий каретку , установленные на ней вдоль зоны контроля преобразователи и краскораспыливатели по числу преобразователей, расположенных на заланнс расстоянии от последних, о т л йч ающий с я тем, что, с целью повышения точности отметки дефектов , он снабжен параллелограммным механизмом, одно звено...
1059502![Способ дефектометрии поверхности изделий Способ дефектометрии поверхности изделий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/39fe9a69724c964e8d5ef7f83b04270b.jpg)
Способ дефектометрии поверхности изделий
Изобретение относится к автоматизированному неразрушающему контролю качества изделий металлургического и машиностроительного производства. Цель изобретения - повышение точности. В способе дефектометрии поверхности изделий контролируемая поверхность сканируется одновременно двумя идентичными преобразователями-градиентометрами, имеющими общую ось симметрии, но повернутыми относитель...
1672342