G01U1/32 - Измерение (счет G06M); испытание

Подкатегории

Патенты категории

Патент 101046 Устройство для перезаписи многоканальной магнитной записи сейсмических колебаний

Патент 443324 Устройство для измерения периода гармонического сигнала

Патент 446834 Стенд для градуировки весов с упругими измерительными элементами

Патент 456151 Устройство для поворота задающих стрелок циферблатных указателей весовых дозаторов

Патент 456210 Устройство для дозирования сыпучих материалов

Патент 456211 Весовой порционный дозатор

Патент 456212 Крановые весы

Патент 468157 Устройство взвешивания движущихся обьектов

Патент 472294 Устройство для измерения веса груза в ковше экскаватора- мехлопаты

Патент 475555 Устройство для определения скорости измерения массы образца


Патент 495611 Устройство для измерения количества транспортируемых сыпучих материалов

Патент 496519 Устройство для регистрации сейемических процессов

Патент 504941 Дозирующее устройство для введения порошкообразных проб

Патент 590692 Устройство измерения временных интервалов

Патент 2381512 Способ модификации зондов для химической силовой микроскопии

Патент 2388116 Устройство позиционирования с компенсацией термического дрейфа образца в системе с ионным или электронным источником

Патент 2389032 Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности объекта

Патент 2389033 Способы изготовления игл для сканирующей туннельной микроскопии

Патент 2397138 Способ управляемого синтеза, модификации и разрушения единичных металлооксидных наноструктур в сочетании с контролем их строения и свойств (варианты)

Патент 2402021 Тестовая структура для градуировки сканирующих зондовых микроскопов

Патент 2402022 Способ изготовления сзм-наносенсоров методом электронной стимуляции

Патент 2402782 Способ изготовления зондов на основе кварцевых резонаторов

Патент 2407021 Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством измерения массы и диссипативных свойств

Патент 2415444 Способ повышения достоверности результатов исследования поверхности твердого тела методом атомно-силовой микроскопии

Патент 2420747 Миниатюризованный пружинный элемент и способ его изготовления

Патент 2423713 Кантилевер для сканирующего зондового микроскопа

Патент 2425386 Способ получения изображения в люминесцентном микроскопе ближнего поля

Патент 2425387 Способ изготовления трубчатой микро-, наноиглы в интегральном исполнении

Патент 2426135 Способ измерения рельефа наноразмерной проводящей поверхности с фотонным элементным анализом материала

Патент 2427846 Сканирующий зондовый микроскоп с нанотомом

Патент 2428655 Способ ускорения измерения рельефа поверхности для сканирующего зондового микроскопа

Патент 2428700 Блок управления для сканирующих зондовых микроскопов

Патент 2431151 Способ измерения температуры наночастицы

Патент 2437104 Способ получения иглы из монокристаллического вольфрама для сканирующей туннельной микроскопии

Патент 2442993 Зонд для получения локально усиленных спектров гигантского комбинационного рассеяния

Патент 2446403 Установка для реализации комплексных действий с материалами

Патент 2449294 Способ определения формы и размеров острия иглы зондового микроскопа

Патент 2452934 Способ препарирования тонких пленок висмута на слюде для выявления границ блоков методом атомно-силовой микроскопии

Патент 2456622 Устройство атомно-силовой микроскопии с динамическим режимом

Патент 2459214 Комплект зондов для микроскопа со сканирующим зондом

Патент 2461839 Сканирующий зондовый микроскоп

Патент 2462725 Тестовая структура для калибровки предметных столиков растровых электронных микроскопов в нанометровом диапазоне

Патент 2462726 Способ сканирования на сканирующем зондовом микроскопе и формирования изображения поверхности

Патент 2472165 Сканирующий зондовый микроскоп для биологических применений

Патент 2475761 Способ изготовления зонда для ближнеполевой сверхвысокочастотной микроскопии

Патент 2481589 Перемещаемое устройство подачи звука для растровой силовой микроскопии с акустическим возбуждением образца

Патент 2481590 Способ изготовления коллоидного зондового датчика для атомно-силового микроскопа

Патент 2488126 Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с оптическим микроскопом

Патент 2494406 Сканирующий зондовый микроскоп

Патент 2494407 Способ подготовки и измерения поверхности крупногабаритного объекта сканирующим зондовым микроскопом

Патент 2497134 Способ подвода зонда к образцу для сканирующего зондового микроскопа

Патент 2498321 Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп

Патент 2505823 Кантилевер с одноэлектронным транзистором для целей зондовой микроскопии

Патент 2511025 Тестовая структура для оценки радиуса кривизны острия иглы кантилевера сканирующего зондового микроскопа

Патент 2512674 Система обнаружения зонда

Патент 2514083 Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с космическим аппаратом

Патент 2515731 Сканирующий зондовый микроскоп для исследования крупногабаритных объектов

Патент 2517114 Способ определения простат-специфического антигена в жидкой среде

Патент 2518859 Система обнаружения для динамического зонда

Патент 2519826 Тестовый объект для калибровки микроскопов в микрометровом и нанометровом диапазонах

Патент 2521267 Устройство для исследования материалов в деформированных состояниях методом атомно-силового микроскопа

Патент 2522724 Способ металлографического анализа

Патент 2522776 Нанотехнологический комплекс

Патент 2526295 Сканирующий зондовый микроскоп и способ выявления близости его зондов

Патент 2533533 Способ контролируемого роста квантовых точек из коллоидного золота

Патент 2535644 Система оптического зонда с повышенной скоростью сканирования

Патент 2538024 Калибровочный эталон для профилометров и сканирующих зондовых микроскопов

Патент 2538029 Калибровочный эталон для профилометров и сканирующих зондовых микроскопов

Патент 2538412 Сканирующий зондовый микроскоп с устройством для функционирования многозондового датчика

Патент 2538416 Способ сканирования поверхности объекта с помощью сканирующего зондового микроскопа

Патент 2539677 Зонд на основе полевого транзистора с наноразмерным каналом

Патент 2541419 Зонд атомно-силового микроскопа с нанокомпозитным излучающим элементом, легированным квантовыми точками структуры ядро-оболочка

Патент 2541422 Зонд атомно-силового микроскопа с нанокомпозитным излучающим элементом, легированным квантовыми точками структуры ядро-оболочка

Патент 2545471 Способ исследования трехмерных структур

Патент 2550759 Металлический наконечник для использования в сканирующем зонде и способ изготовления такого наконечника

Патент 2555492 Способ формирования образного изображения поверхности нанообъекта в сканирующем туннельном микроскопе

Патент 2561234 Анализатор многофункциональный

Патент 2563339 Атомно-силовой сканирующий зондовый микроскоп, использующий квазичастицы

Патент 2568069 Модификация зондов для атомно-силовой микроскопии посредством напыления наночастиц источником ионных кластеров

Патент 2570239 Способ измерения энергетических спектров квазичастиц в конденсированной среде

Патент 2571446 Способ использования полуконтактного режима с фиксированным пиком силы для измерения физических свойств образца

Патент 2571449 Сканирующий зондовый микроскоп с компактным сканером

Патент 2572287 Крепление для сенсорного блока сканирующего измерительного зонда, сенсорный блок сканирующего измерительного зонда, сканирующий зондовый микроскоп и способ установки и снятия сенсорного блока сканирующего измерительного зонда

Патент 2572522 Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности объекта

Патент 2584179 Зонд атомно-силового микроскопа с нанокомпозитным излучающим элементом, легированным квантовыми точками и магнитными наночастицами структуры ядро-оболочка

Патент 2587686 Интерферометр для измерения линейных перемещений сканера зондового микроскопа

Патент 2587691 Зонд атомно-силового микроскопа с нанокомпозитным излучающим элементом, легированным квантовыми точками и магнитными наночастицами структуры ядро-оболочка

Патент 2591871 Устройство манипулирования

Патент 2592048 Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа

Патент 2597959 Способ измерения поверхности объекта в режиме сканирующего зондового микроскопа

Патент 2605816 Система и способ позиционирования

Патент 2606089 Способ исследования информационной емкости поверхности наноструктурированных материалов

Патент 2610040 Монокристаллический металлический зонд для сканирующих приборов

Патент 2610351 Способ измерения энергетических спектров квазичастиц в конденсированной среде

Патент 2610383 Способ комплексной диагностики физико-химических свойств наноструктурированных покрытий на основе единичных наночастиц металлов и металлооксидов

Патент 2615052 Сканирующий зонд атомно-силового микроскопа с нанокомпозитным излучающим элементом, легированным квантовыми точками и магнитными наночастицами структуры ядро-оболочка

Патент 2615708 Сканирующий зонд атомно-силового микроскопа с нанокомпозитным излучающим элементом, легированным квантовыми точками и магнитными наночастицами структуры ядро-оболочка

Патент 2616854 Сканирующий зондовый микроскоп для оптической спектрометрии

Патент 2617542 Сканирующее устройство локального воздействия

Патент 2617816 Способ восстановительного ремонта электронного зонда буровой установки горизонтально направленного бурения и восстановленный таким способом электронный зонд

Патент 2629538 Устройство механического перемещения для сканирующего зондового микроскопа

Патент 2629713 Зонд атомно-силового микроскопа с программируемым спектральным портретом излучающего элемента, легированного квантовыми точками структуры ядро-оболочка

Патент 2631529 Способ исследования поверхности на атомно-силовом микроскопе с помощью флуоресцентных квантовых точек

Патент 2635345 Зонд атомно-силового микроскопа с программируемым спектральным портретом излучающего элемента на основе квантовых точек структуры ядро-оболочка

Патент 2638365 Проточная жидкостная ячейка для сканирующей зондовой микроскопии

Патент 2643677 Способ исследования микрообъектов и ближнепольный оптический микроскоп для его реализации

Патент 2645437 Сканирующий зондовый нанотомограф с модулем оптического анализа

Патент 2645884 Проточная жидкостная ячейка для сканирующей зондовой микроскопии

Патент 2647512 Зонд атомно-силового микроскопа с программируемой динамикой изменения спектральных портретов излучающего элемента, легированного квантовыми точками структуры ядро-оболочка

Патент 2650702 Зонд атомно-силового микроскопа с программируемой динамикой изменения спектральных портретов излучающего элемента на основе квантовых точек структуры ядро-оболочка

Патент 2653026 Способ выращивания острийных нитевидных кристаллов кремния

Патент 2653190 Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности образца

Патент 2654385 Измерительный зонд и способ его изготовления

Патент 2660418 Зонд для сканирующей зондовой микроскопии и способ его изготовления (варианты)

Патент 2663266 Зонд ближнепольного микроскопа

Патент 2664783 Устройство подвижки